为什么电路板上的烧录类IC(如flash eeprom等)在ICT和FCT(功能测试)时,里面的程序容易损坏?

有哪些因素会导致这种情况?
2025-01-05 10:12:11
推荐回答(4个)
回答1:

夹具里面的测试点和连线可以看作一根天线, 上电时会有干扰信号串入线路中, 最好在上电之前对这些IC进行写保护, 以防止数据被修改.

回答2:

程序只有丢失或者没有烧录完整。
建议ICT和FCT在烧程的时候增加测试步骤比如verify,checksum等。
另外看看是否是芯片原材料问题和程序和芯片电气匹配问题?

回答3:

我也遇到过这种情况,调查原因是因为放电电路没搞好

回答4:

正常情况下是不会丢失或者损坏的
电路设计问题或者测试方案的设计有问题